



关于低温试验
低温测试的目的是检验试件能否在长期的低温环境中储藏、操纵控制,是确定军民用设备在低温条件下储存和工作的适应性及耐久性。低温下材料物理化学性能。标准中对于试验前处理、试验初始检测、样品安装、中间检测、试验后处理、升温速度、温度柜负载条件、被测物与温度柜体积比等均有规范要求。低温条件下试件的失效模式:产品所使用零件、材料在低温时可能发生龟裂、脆化、可动部卡死、特性改变等现象。
测试范围
低温测试主要用于金属材料、橡塑、电池、科研研究、医辽用品的保存、生物制品、远洋制品、电子、元器件、电路板、通讯、LED、液晶屏、仪器仪表、电容、化工材料等特殊材料的低温实验及储存
测试内容
✔ 低温运行试验
✔ 低温贮存试验
✔ 低温启动或冷启动试验
✔ 低温脆性试验
✔ 低温冲击试验
✔ 低温循环试验
✔ 低温耐久试验
✔ 低温疲劳试验
✔ 低温寿命试验
✔ 低温振动试验
✔ 低温稳定性试验
✔ 低温性能试验
✔ 低温老化试验
测试标准
1、GB/T2423.1-2008 《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温》
2、IEC 60068-2-1:2007 《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温》
